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基于高光譜成像技術的貢梨損傷與農藥殘留檢測研究分析

更新時間:2017/8/10點擊次數:3259

水果的損傷及水果表面農藥的殘留等不僅會造成果蔬的腐爛,而且會嚴重影響消費者的身體健康。因此水果損傷與農藥殘留的快速有效檢測是非常有實際價值的。雖然水果的損傷、農業殘留區域和正常區域在外部特征上呈現出大的相似性,但是損傷區域和農藥殘留部位發生一定的變化,這種變化可以通過特定波長下的光譜表現出來。

高光譜圖像技術結合了光譜分析和圖像處理的技術優勢,對研究對象的內外部品質特征進行檢測分析,趙杰文等利用高光譜圖像技術檢測水果輕微損傷,準確率為88.57 %;Jasper G .Tallada等分別應用高光譜圖像技術對不同成熟度的

草莓表面損傷、蘋果的表面缺陷及芒果的成熟度檢測進行了試驗研究。王玉田等運用熒光光譜檢測出水果表面殘留的農藥;胡淑芬等運用激光技術對水果

表面農藥殘留進行了試驗研究;薛龍等針對水果表面農藥殘留,以滴有較高濃度的臍橙為研究對象,利用光譜范圍425-725 nm的高光譜圖像系統進行檢測,發現對較高濃度的農藥殘留檢測效果較好。本文采用高光譜圖像技術檢測不同水果的損傷區域和農藥殘留區域,以實現損傷區域和農藥殘留區域共同識別的目的。


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